UV1901紫外可見分光光度計單機操作版光譜測量功能
操作和上一章光度測量的相同,UV1901紫外可見分光光度計開機校驗結(jié)束后,在菜單中選擇光譜測量項,按【ENTER】鍵進入此功能塊。
屏幕顯示:
測量模式:T ABS E
掃描范圍:200nm-1100nm
記錄范圍:0.00%-300%
掃描速度:快 中 慢
采樣間隔:0.1 0.5 1 2 5
掃描次數(shù):1
顯示模式:連續(xù) 重復(fù)
請按【start/stop】鍵,掃描
基線校正 曲線載入
1)測量模式: T(透射比) ABS(吸光度) E(能量)
任選一項,一般為吸光度ABS
如選擇[E(能量)]項UV1901紫外可見分光光度計屏幕菜單中增加一項:
倍率:1 2 3 4
2) 掃描范圍
波長范圍(190nm~1100nm)。
如輸入順序有誤(超出190-1100nmf范圍),在UV1901紫外可見分光光度計進入測量工作時
屏幕提示:輸入錯誤 此時按正確順序輸入波長值即可。3) 記錄范圍
該記錄范圍對應(yīng)不同的測量模式,可根據(jù)用戶的需要輸入和修改。字段左面為測量下限,字段右面為測量上限。
其中:T 范圍(0.000%~999.9%)
Abs 范圍(-4.000A~4.000A)
E 范圍(0.00E~999.99E)
在UV1901紫外可見分光光度計光譜測量的范圍內(nèi)輸入合適的范圍。
4)掃描速度
分為三檔:快速 中速 慢速
在UV1901紫外可見分光光度計光譜測量的掃描速度處任選一項
5) 采樣間隔
分為五檔:0.1nm 0.5nm 1nm 2nm 5nm
在UV1901紫外可見分光光度計光譜測量的采樣間隔處選擇所需間隔。
6) 掃描次數(shù)
根據(jù)用戶的不同需要選擇。在UV1901紫外可見分光光度計光譜測量的掃描次數(shù)處輸入范圍(1~9)次
7) 顯示模式
分為連續(xù)和重疊兩種。
連續(xù)掃描:如果掃描次數(shù)設(shè)為2,那么*次掃描結(jié)束后,儀器自動清除曲線,進行再次掃描。
重疊掃描:在*次掃描結(jié)束后,不清除曲線,在原來的基礎(chǔ)上再次掃描畫曲線。
UV1901紫外可見分光光度計功能鍵[基線校正]:即鍵盤中的[F1]鍵
所有參數(shù)設(shè)定完成后,用一對配套石英比色皿倒入?yún)⒈葮悠?br />分別放入?yún)⒈裙饴泛蜆悠饭饴罚w好樣品盒蓋。再按此鍵進行基線校正。
屏幕提示:基線校正,準備
此時要停止運行,按[START/STOP]鍵即可。
基線掃描結(jié)束,取出樣品光路中的比色皿,重新倒入待測樣品,并放回樣品光路,蓋好樣品盒蓋
屏幕下端提示:請按[START/STOP]鍵,掃描
掃描結(jié)束后,顯示比例、峰谷、存貯、打印。
1) [比例]即[F1]
按[F1]鍵進入標尺修改功能區(qū),屏幕自動反顯所需修改字段,修改完畢后,按[ENTER]鍵確認后,屏幕自動進入下一修改字段,在zui后一個字段修改結(jié)束后,按[START/STOP]鍵,屏幕將按新設(shè)定的座標刷新。其主要功能為將所需范圍內(nèi)的圖形部分放大。
2) [峰/谷]即[F2]
按[F2]鍵屏幕將顯示掃描區(qū)域的所有峰、谷值。
如一幅屏幕不夠顯示所有峰值的話,選擇[上一頁]、[下一頁],即鍵盤中[F2]、[F3]鍵可翻屏,按[F4]鍵可打印輸出。
3)[存貯]即[F3]
按[F3]鍵為曲線存儲鍵,共可存9條曲線,每條曲線zui大存儲掃描點不大于1820點。 在輸入文件序列時如輸入數(shù)值有誤,請按[CE]鍵清除后重新輸入正確數(shù)值即可。
輸入完畢后,按[ENTER]鍵確認。
用[←][→]鍵可任意選擇10個數(shù)字和26個字母中任何字為當前要存儲文件,文件名zui多為8個字。
每選擇一個數(shù)字或字母,按[ENTER]鍵確認,直到選擇完畢,按[END]即鍵盤中[F4]鍵存儲并返回。
對已存入文件的序列號,若選擇該序列號,只要對文件名加以重新輸入,原文件將被覆蓋,新文件自動生成。
4) [打印]即[F4]
按[F4]鍵即打印輸出已完成的掃描圖、峰值、谷值。
3.4.3 [曲線載入]
即鍵盤中[F2]鍵為內(nèi)存曲線調(diào)用鍵在[光譜測量]菜單中,按[F2]鍵
在[請輸入文件序列]后,輸入曲線載入序號,按[ENTER]鍵后,屏幕自動清屏并顯示調(diào)入曲線。
若無內(nèi)存曲線,屏幕請求重新輸入曲線序號,此時輸入正確數(shù)值即可。
掃一掃,加微信
版權(quán)所有 © 2019 上海奧析科學(xué)儀器有限公司
備案號:滬ICP備13035263號-2
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap