測(cè)鍍層X(jué)熒光光譜儀 規(guī)格:
1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)
2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%
3.zui低檢出限:1PPM
4.鍍層檢驗(yàn)厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)
5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)
測(cè)鍍層X(jué)熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域:
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)
型號(hào):TRF5000
產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-30
簡(jiǎn)要描述:
測(cè)鍍層X(jué)熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域:鍍層成分分析鍍層厚度分析鍍層環(huán)保檢測(cè)
Product catalog
Related articles
測(cè)鍍層X(jué)熒光光譜儀 規(guī)格:
1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)
2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%
3.zui低檢出限:1PPM
4.鍍層檢驗(yàn)厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)
5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)
測(cè)鍍層X(jué)熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域:
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)
上一篇:EDX –p3000X熒光光譜儀
下一篇:EDX8600HX熒光光譜儀
掃一掃,加微信
版權(quán)所有 © 2019 上海奧析科學(xué)儀器有限公司
備案號(hào):滬ICP備13035263號(hào)-2
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap